Рубрика: Електроника
A*STAR и Soitec објавија соработка за истражување на SiC
Автор: Невенка Стојановска
Објавено на 25.01.2022 - 13:15

Институтот за микроелектроника (IME) при Агенцијата за наука, технологија и истражување (A*STAR) ) од Сингапур и фирмата за полуспроводнички материјали Soitec од Франција најавија најавија соработка чијашто цел е развој на следната генерација од SiC (Silicon Carbide) полуспроводнички склопови за напојување на електрични возила и на напредни електронски високонапонски уреди. Во рамките на соработката, секоја од страните ќе ги користи веќе проверените технологии на Soitec, како Smart Cut, но и пилот-производната линија на IME со цел да создадат 200 mm SiC полуспроводнички подлоги.

Заедничкото истражување ќе придонесе за развој на еден целосен SiC екосистем и ќе ги зајакне капацитетите за производство на полуспроводници во Сингапур и во регионот. Планирано е истражувачката соработка да трае до средината на 2024 година. Крајната цел е постигнување на следните резултати:

  1. Развој на процесите за изработка на SiC епитаксијални структури и MOSFET-и за Smart Cut SiC подлоги што ќе овозми производство на поквалитетни микрочип транзистори со можност за помалку дефекти во текот на производниот процес и зголемен обем на производство; и
  2. Дефинирање на модел за изработка на SiC моќните MOSFET уреди направени со Smart Cut SiC подлоги, и демонстрирање на предностите што овој процес ги има над конвенционалните масивни подлоги.

Во врска со оваа соработка Кристоф Малевил од Soitec изјави: „Соработката го отвора патот за развој на напредни решенија на епитаксии за производство на поквалитетни SiC вафли со енергетски ефикасни карактеристики, со оглед на возбудливиот потенцијал на овој материјал“.

Клучни зборови: