Вкупните структурни оштетувања предизвикани од разни зрачења во електронските материјали на ниво на атоми се 10 пати поголеми отколку што се мислело и се знаело досега. Тоа е резултат кој изненадува, а добиен е со нова метода која користи комбинација од ласерски и акустички бранови и која на научниците им дава можност за истражување слично на рендгенските снимки. Новата метода на истражувачите им овозможува да "гледаат" низ цврсти материјали со цел со досега невидена прецизност да го утврдат местото на оштетување во длабочината на материјалот.